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Détail de l'expérience

Nos expériences

Informations

Méthode de base de l’imagerie de micro et nanostructures avec le microscope à force atomique (AFM)

Réf : P2538000

Principe de l’expérience

 Le microscope à force atomique permet d’analyser une surface point par point grâce à un balayage par une sonde. Cette sonde est constituée d’une pointe très fine, positionnée à l’extrémité d’un levier flexible. Ce type de microscopie fonctionne en mesurant l’intéraction attractive ou répulsive entre les atomes constituant la pointe nanométrique et les atomes surfaciques d’un échantillon. Quand la pointe est à proximité d’une surface, les forces d’interactions entre la pointe et l’échantillon entraînent une déviation du levier qui suit la loi de Hooke. L’analyse de la déviation du levier, à l’aide d’un laser, permet à la fois de déterminer le parcours exact de la pointe et de mesurer les forces d’interactions entre cette dernière et l’échantillon.

Sujets d’études

  • La microscopie à force atomique
  • Le potentiel Lennard-Jones
  • L’imagerie des nanotechnologies
  • La dorce dynamique et la force statique
  • L’amplitude de vibrations

Objectifs

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Produit Référence Qté Prix H.T
Microscope à force atomique compact - AFM

09700-99

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Document Nom du fichier
Experiment guide p2538000e.pdf