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Détail de l'expérience

Nos expériences

Informations

Détermination de structures cristallines par rayonnement X/Méthode de Laue avec capteur d’image digital pour rayons X (XRIS)

Réf : P2541606

Principe de l’expérience

 Les figures de Laue sont produites lorsque des monocristaux sont irradiés avec des rayons X poly-énergétiques. Cette méthode est principalement utilisée pour la détermination des symétries et l’orientation des cristaux. Lorsqu’un monocristal LiF est irradié, il en résulte une figure de diffraction caractéristique. Ce modèle est enregistré avec le capteur de rayons X numérique XRIS.

Sujets d’études

  • Le réseau cristallin
  • Le système cristallin
  • Le réseau réciproque
  • Les indices de Miller
  • L’amplitude de la structure
  • Le facteur de forme atomique
  • La diffusion de Bragg

Objectifs

  • La diffraction de Laue d’un monocristal de Lif est enregistré avec un capteur d’image digital.
  • Les indices de Miller des surfaces de cristal correspondantes sont assignés aux réflexions de Laue.
Produit Référence Qté Prix H.T
Appareil à rayons X - XR4.0 VERSION LI - 35 kV, 1mA

09056-99

1 -
Module tiroir avec tube à rayons X, anticathode cuivre

09057-51

1 -
Kit d'extension analyse cristallographique

09145-88

1 -
Kit d'extension tomodensitométrie

09185-88

1 -
Document Nom du fichier
Experiment guide p2541602e.pdf